Machine vision systems for inspection and metrology VII - 4-5 November, 1998, Boston, Massachusetts

Författare
Susan Snell Solomon John W. V. Miller Bruce G. Batchelor
(Bruce G. Batchelor, John W.V. Miller, Susan Snell Soloman, chairs/editors.)
Genre
Konferenser, Ej skönlitteratur, Konferenspublikation
Språk
Engelska
Förlag År Ort Om boken ISBN
Cop. 1998 USA xi, 386 sidor. ill. 28 cm